Содержание
Иллюстрации - 6
Таблицы и схемы - 0
Современная система прямого оптического широкополосного контроля толщины напыляемых оптических покрытий «СВЕТОТЕХНИКА», 2020, № 4

Журнал «Светотехника» №4

Дата публикации 17/08/2020
Страница 51-54

Купить PDF - ₽400

Современная система прямого оптического широкополосного контроля толщины напыляемых оптических покрытий «СВЕТОТЕХНИКА», 2020, № 4
Авторы статьи:
Просовский Олег Фёдорович, Буднев Александр Юрьевич, Денисов Дмитрий Геннадьевич, Барышников Николай Васильевич, Просовский Юрий Олегович

Просовский Олег Фёдорович, инженер. Начальник лаборатории оптических покрытий АО «ОНПП «Технология» им. А.Г. Ромашина»

Буднев Александр Юрьевич, инженер. Инженер-технолог 3-й категории лаборатории оптических покрытий АО «ОНПП «Технология» им. А.Г. Ромашина»

Денисов Дмитрий Геннадьевич, инженер. Доцент кафедры РЛ‑2 ФГБОУ ВО «МГТУ им. Н.Э. Баумана (НИУ)»

Барышников Николай Васильевич, инженер. Доцент кафедры РЛ‑2 ФГБОУ ВО «МГТУ им. Н.Э. Баумана (НИУ)»

Просовский Юрий Олегович Просовский Юрий Олегович, студент 1 курса магистратуры ФГБОУ ВО «МГТУ им. Н.Э. Баумана (НИУ)»

Аннотация
Проанализированы схемотехнические решения построения систем прямого и косвенного контроля создаваемых светофильтров и предложено принципиально новое решение системы контроля, обеспечивающее высокие эксплуатационные характеристики этих изделий. Предложен оригинальный подход к созданию и реализации современной широкополосной системы по методу прямого оптического контроля толщины наносимых оптических покрытий. Проведена апробация разработанной системы контроля, результатами которой (выходными характеристиками) являются спектральные зависимости коэффициента пропускания. Проведён анализ таких зависимостей для интерференционных светофильтров, полученных с использованием разных систем оптического контроля. Сделаны прогнозы по дальнейшей модернизации системы прямого широкополосного оптического контроля толщины напыляемых покрытий.
Список использованной литературы
1. Lequime M., Nadji S., Stojcevski D., Koc C., Grézes-Besset C., Lumeau J. Determination of the optical constants of a dielectric layer by processing in situ spectral transmittance measurements along the time dimension // Appl. Opt. – 2017. – Vol. 56. – P. C181–C187.
2. Окатов М.А., Антонов Э.А., Байгожин А. Справочник технолога-оптика. – СПб.: Политехника, 2004. – 679 с.
3. Nadji S.L., Lequime M., Begou T., Koc C., Grézes-Besset C., Lumeau J. Use of a broadband monitoring system for the determination of the optical constants of a dielectric bilayer // Appl. Opt. – 2018. – Vol. 57. – P. 877–883.
4. Zhupanov V.G., Kozlov I.V., Fedoseev V.N., Konotopov P., Trubetskov M.K., Tikhonravov A.V. Production of Brewster angle thin film polarizers using a ZrO2/SiO2 pair of materials // Appl. Opt. – 2017. – Vol. 56. – P. C30–C34.
5. URL: https://www.optilayer.com/ (дата обращения: 20.01.2020).
Ключевые слова
Выберите вариант доступа к этой статье

Купить

Рекомендуемые статьи