Статья посвящена влиянию повышения температуры окружающей среды и температуры точки температурного контроля (ТТК) на сроки службы светодиодов (СД). Ранее проведённые исследования показали, что срок службы СД в основном зависит от температуры p‒n-перехода. Для большинства мощных СД, находящихся внутри светильников, основной проблемой является отвод тепла, выделяющегося на p‒n-переходе. В работе предпринята попытка исследования основных ограничений, накладываемых на отвод тепла, и, как следствие, на использование СД для целей общего освещения. Исследования осуществлялись в два этапа. Во-первых, исследовалось уменьшение светового потока при увеличении температуры окружающей среды. Во-вторых, исследовалось влияние увеличения температуры ТТК на срок службы СД. Эксперименты проводились с использованием мощных СД, подвергавшихся внешней термической нагрузке. Температура внутри климатической камеры соответствовала температуре окружающей среды при работе СД. Температура внутри камеры и температура ТТК измерялись при помощи термопары ТХА. Полученные данные представлены в табличном виде и сопоставлены с результатами измерений светового потока. Для установления связи между параметрами полученные результаты статистически анализировались 1. Bullough, J. Light Emitting Diode Lighting Systems // Lighting Answers. – 2003. – Vol.7, No.3. National Lighting Product Information Program, Lighting Research Center, Troy, NY.
2. The Alliance for Solid State Illuminations and Technologies, ASSIST, Osram Opto Semiconductors, «LED Basics», pp. 1–26, 1st September 2010.
3. The Alliance for Solid State Illuminations and Technologies, ASSIST, PHILIPS LUMILEDS, «Technology White Paper, Understanding power LED lifetime analysis», pp. 1–11, 2008.
4. Xi, X., Schubert, E. F. Junction–temperature measurement in GaN ultraviolet light-emitting diodes using diode forward voltage method // Applied Physics Letters. – 2004. – Vol. 85, No. 12. – P. 2163.
5. Jayawardena, A., Yi-wei Liu, Narendran, N. Methods for estimating the junction temperature of AC LEDs // Council for Optical Radiation Measurements (CORM) 2012 Annual Technical Conference, Ottawa, Ontario, 29 May – 1 June 2012.
6. Narendran, N., Bullough, J. D., Maliyagoda, N., Bierman, A. What is the useful life for white LEDs? // JIES. – 2001. – Vol. 30, No. 1. – P. 57–67.
7. IEC62612 Self-ballasted LED lamps for general lighting services with supply voltages > 50 V – Performance requirements, International Electrotechnical Commission, June 2013.
8. Meneghesso, G., Levada, S., Pierobon, R., Rampazzo, F., Zanoni, E., Cavallini, A., Castaldini, A., Scamarcio, G., Du, S., Eliashevich, I. Degradation mechanisms of GaNbased LEDs after accelerated DC current aging // IEDM Tech. Dig. – 2005. – P. 103–106.
9. Trevisanello, L., Meneghini, M., Mura, G., Vanzi, M., Pavesi, M., Meneghesso, G., Zanoni, E. Accelerated life test on high brightness Light Emitting Diode // IEEE Transactions on Device and Materials Reliability – 2008. – Vol. 8, No. 2. – P. 304–311.
10. Hong, E., Narendran, N. A method of projecting useful life of LED lighting systems// Third International Conference on Solid State Lighting, Proceedings of Photo-Optical Instrumentation Engineers, SPIE:5187, pp. 93–99, 2004.
11. Narendran, N., Gu, Y. Life of LED based white light sources // IEEE/OSA Journal of display technology. – 2005. – Vol. 1, No.1. – P. 167–171.
12. Chen, C. H., Tsai, W. L. Tsai, M. Y. Thermal resistance and reliability of low cost and high power LED packages under WHTOL test // Electronics materials and packaging, EMAP2008, Taipei, pp.271–276, 22–24 Oct 2008.
13. Farkas, G., Van Voorst Vader, Q., Poppe, A., Bogná, G. Thermal investigation of high power optical devices by transient testing// IEEE Transaction Components Packaging Technology. ‒ 2005. – Vol. 28, No. 1. – P. 45–50.

• Предыдущая статья
• Следующая статья

• светодиод
• светильник
• температура p‒n-перехода
• температура окружающей среды
• ТТК
• продолжительность горения